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X射線吸收譜儀的原理、技術(shù)進展與應用深度剖析

更新時間:2025-06-25  |  點擊率:87
  X射線吸收譜儀(XAS)是一種先進的材料分析技術(shù),其原理基于X射線與物質(zhì)中特定元素的相互作用。當X射線穿過樣品時,特定能量的射線會被樣品中的原子吸收,引發(fā)電子躍遷,從而發(fā)射出特定波長的X射線。這些X射線攜帶著關(guān)于樣品原子結(jié)構(gòu)和電子狀態(tài)的重要信息。通過精細調(diào)控X射線能量,激發(fā)樣品中特定元素的電子躍遷,并測量這些X射線的能量和強度,科學家能夠獲取元素價態(tài)、配位環(huán)境、化學鍵類型以及局部電子結(jié)構(gòu)等關(guān)鍵信息。
  近年來,X射線吸收譜儀技術(shù)取得了顯著進展。一方面,設備的能量分辨率和靈敏度不斷提高,使得能夠更精確地測定材料的局域結(jié)構(gòu)信息。例如,中國科學院上海應用物理研究所研發(fā)的SuperXAFS系列譜儀,憑借高質(zhì)量的X射線,能量分辨率以及超精密的聯(lián)動掃描系統(tǒng),為用戶提供了媲美同步輻射XAFS的實驗數(shù)據(jù)。另一方面,臺式X射線吸收譜儀的出現(xiàn),突破了傳統(tǒng)同步輻射光源的限制,可在常規(guī)實驗室環(huán)境中實現(xiàn)X射線吸收精細結(jié)構(gòu)測量,為科研人員帶來了極大的便利。
  在應用方面,X射線吸收譜儀廣泛應用于材料科學、化學、生物學和醫(yī)學等領(lǐng)域。在材料科學中,它用于研究材料的晶體結(jié)構(gòu)、電子態(tài)以及元素分布,為材料設計和優(yōu)化提供有力支持。在化學領(lǐng)域,XAS技術(shù)可以揭示化學反應機理,幫助科學家理解反應過程中的原子和電子結(jié)構(gòu)變化。在生物學和醫(yī)學中,XAS技術(shù)為研究生物大分子的空間構(gòu)象以及疾病診斷和治療提供新途徑。

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